الخصائص الهيلكية والبصرية والكهربائية SnSe4 ذاكرة تحويل الطور

خالد الجليدي (1) , شاسي بول
(1) قسم الهندسة الالكثرونية، كلية الهندسة، جامعة ديمونت فورت، بريطانيا, المملكة المتّحدة

الملخص

في هذه الورقة تم استعراض طريقة تصميم ذاكرة التغير في الطور (PCM) باستخدام محتويات بنية بسيطة من (Gl,Al,SnSe4,Al) حيت تم اعداد  كلا من الزجاج ومادة تغيير الطور SnSe4 بشكل مستقل  واودعت باستخدام التبخر،حركية التبلورللمادة SnSe4 قد ثم التحقق  منها باستخدام التسخين الحرارة العالية . المادة SnSe4 تظهر انه في الجهد المنخفض والتيار القليل يسبب انتقال من مرحلة الغير متبلور الي المرحلة المتبلورة حيث يظهر في اختبار IV , واضافة الى ذلك فآن حرارة التبلور للمادة المتحولة الطور هيا 350  درجة مئوية المكتسبة بسبب المرحلة الانتقالية ،والتي تم تاكيدها باستخدام اختبار  نتائج الانعراج XR ، بالاضافة الى ذلك ، ثم حساب قيمة الفجوة باستخدام اختبار UV والنتائج اظهرت ان سبيكة SnSe4  شبه موصله ، حيث كانت قيمة الفجوة ev 1.65 . وتوضح قياسات  DC  ان   معدة PCM   يمكن ان تنتقل من غير المتبلورة الى بلورية  عند 3.2 فولت مع مقاومة عالية  0.98 ميقا اوم ، وحيث المقاومة البلورية  هو 13.9 كيلو اوم .  اضافة الى ذلك ،  تم التحقق من اختبار النبضة واضهرت النتائج انه عملية الانتقال تحدث عند 1.6 فولت وزمن 33 ميكرو ثانية.

النص الكامل

تم إنشاؤه من ملف XML

المراجع

[1]-B. Fulford. Unsung hero. Forbes, June 24 2002.

[2]-iSuppli Corporation. http://isuppli.com.

[3]-S. Lai. Non{volatile memory technologies: the quest forever lower cost. In IEDM 2008, pages 01{02, 2008.

[4]-G. E. Moore. Cramming more components onto integrated circuits. Electronics, 38(8):114{117, 1965.

[5]-International technical roadmap for semiconductors. www.itrs.net/Links/2008ITRS/Update/2008Update.pdf, 2008.

[6]-Science X network,’’Phase-change material with unexpected optical-reflectivity properties offers fresh perspectives for data storage, 2013. [Online] Available from:http://phys.org/news/2013-01-phase-change-material-uexpected-optical-reflectivity-properties.html#jCp.

[7]-S. Lai, B Current status of the phase change memory and its future,[ in Proc. IEEE Int. Electron Devices Meeting, 2003, pp. 10.1.1–10.1.4.

[8]-International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS), 2009. [Online]. Available: http://public.itrs/net.

المؤلفون

خالد الجليدي
شاسي بول
الجليدي خ. ., & بول ش. (2018). الخصائص الهيلكية والبصرية والكهربائية SnSe4 ذاكرة تحويل الطور . مجلة العلوم البحتة والتطبيقية , 17(1), 70-74. https://doi.org/10.51984/jopas.v17i1.67
تنزيل الاقتباسات
Endnote/Zotero/Mendeley (RIS) BibTeX

تفاصيل المادة

كيفية الاقتباس

الجليدي خ. ., & بول ش. (2018). الخصائص الهيلكية والبصرية والكهربائية SnSe4 ذاكرة تحويل الطور . مجلة العلوم البحتة والتطبيقية , 17(1), 70-74. https://doi.org/10.51984/jopas.v17i1.67

المؤلفات المشابهة

يمكنك أيضاً إبدأ بحثاً متقدماً عن المشابهات لهذا المؤلَّف.

No Related Submission Found